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　　高精度薄膜測厚儀是一種用于精確測量薄膜厚度的專業(yè)設備，以下從測量原理、應用范圍、技術優(yōu)勢、選購要點等方面為你詳細介紹：

　　一、測量原理

　　機械接觸式：將預先處理好的薄型試樣一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面以一定壓力落到薄型試樣另一面，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

　　二、應用范圍

　　材料類型：適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片(如鋁箔、銅箔、錫箔等)、硅片、金屬片、紡織材料、固體電絕緣體等多種材料的厚度精確測量。

　　應用領域：廣泛應用于薄膜生產(chǎn)企業(yè)、質檢機構、研究院校等對薄膜厚度有嚴格要求的領域。在包裝材料生產(chǎn)中，可幫助生產(chǎn)商控制薄膜厚度，確保包裝材料的品質和使用性能;在質量控制環(huán)節(jié)，持續(xù)監(jiān)控產(chǎn)品厚度，確保產(chǎn)品的一致性和符合規(guī)格;在工藝優(yōu)化方面，提供精確的厚度數(shù)據(jù)，幫助生產(chǎn)人員了解和優(yōu)化生產(chǎn)工藝;在新產(chǎn)品開發(fā)階段，為研發(fā)團隊提供精確的厚度數(shù)據(jù)，了解產(chǎn)品的性能和特性。

　　三、技術優(yōu)勢

　　高精度測量：測量分辨率可達0.01μm，能實現(xiàn)高要求的測量精度，滿足不同行業(yè)對薄膜厚度精確測量的需求。

　　多種測量方式：可根據(jù)不同的薄膜類型和應用需求選擇合適的測量原理，如機械接觸式適用于各種單層薄膜材料或紙張等平面材料的厚度測量，光學式適用于透明薄膜的測量等。

　　高重復性：采用科學合理的結構布局和專業(yè)的控制技術，確保測量結果的穩(wěn)定性和重復性。

　　數(shù)據(jù)統(tǒng)計與分析功能：可連接計算機，通過專用統(tǒng)計分析軟件實現(xiàn)測量數(shù)據(jù)手動或自動采集，實時統(tǒng)計分析最大值、最小值、平均值、偏差值、曲線圖等，方便用戶對測量數(shù)據(jù)進行分析和處理。